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大型图三 ZnO/ZnTe探测器紫外-可见-红外波段的I-V响应和工作机制 a,b,c)ZnO/ZnTe器件在325nm,532nm,1064nm激光照射下的I-V测试曲线。

企业b,c)ZnO和ZnO/ZnTe核壳纳米棒的SEM图。首先，最易遭受构建深度神经网络模型（图3-11），最易遭受识别在STEM数据中出现的破坏晶格周期性的缺陷，利用模型的泛化能力在其余的实验中找到各种类型的原子缺陷。

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